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3120A 相噪短穩(wěn)分析盒

概述

Microsemi(并購了Symmetricom公司)公司開發(fā)了直接數(shù)字相位噪聲測量技術(shù),這項(xiàng)技術(shù)已經(jīng)擴(kuò)展到一個(gè)測試探頭。精確的相噪和阿倫方差測量成本顯著降低。

Microsemi(并購了Symmetricom公司)的3120A是一款高性能的測試探頭,可以測量射頻源端口和雙端口設(shè)備的振幅、相位和頻率的穩(wěn)定(頻率:0.5MHz—30MHz)。

3120A的測試內(nèi)容如下:

  • 實(shí)時(shí)“帶狀圖”相和具有亞皮秒(PS)精度和頻率的差異
  • 絕對頻率計(jì)數(shù)為:13+位每秒,最大17位(升級選項(xiàng)))
  • 阿倫方差(ADEV)通常小于1E-13(t=1s)
  • 改進(jìn)的阿倫方差(MDEV)方面,哈德曼方差(HDEV),時(shí)間偏差(TDEV)。(升級選項(xiàng))
  • RMS集成的相噪和相噪偏移量為:
  • 1Hz—100kHz,水平低于-170dBc/Hz(升級選項(xiàng))
  • AM噪聲偏移量為:1Hz—100kHz,<-170dBc/Hz(升級選項(xiàng))
  • RMS集成的抖動時(shí)間小于100fs,殘余抖動為:1Hz—100kHz(升級選項(xiàng))

        3120A需要一臺PC主機(jī)和用戶提供的外部參考振蕩器。幾乎所有方面的測量性能的準(zhǔn)確度、重復(fù)性、本底噪聲和雜散響應(yīng)都依賴于能夠提供最好的參考信號,如:采用一個(gè)獨(dú)立的低噪聲OCXO以進(jìn)行相位噪聲和調(diào)幅噪聲測量等。

重要特點(diǎn)

主要特點(diǎn):

  • 獨(dú)立輸入和參考頻率為:0.5MHz-30MHz
  • PM噪聲的互相關(guān)測試偏移量為:1Hz-100kHz
  • 阿倫方差(ADEV)通常為:<1E-13(t=1s)
  • SFDR指定為:-100dBc,,通常低于-120dBc
  • 頻率和相位差圖以一百萬+點(diǎn)記錄描繪振蕩器漂移
  • 包括數(shù)字I/O拓展端口和獨(dú)立ADCs輸入
  • 易于使用的測量軟件,完整多線程高性能測量
  • ASCII文件格式擁有靈活的數(shù)據(jù)導(dǎo)入和導(dǎo)出選項(xiàng)
  • 可選功能(軟件升級)
  • AM噪聲
  • MDEV、HDEV、TDEV和抖動測量的信號統(tǒng)計(jì)特性
  • 頻率計(jì)數(shù)器許可協(xié)議
  • 模板測試許可
  • 所有受支持的測量,都具有用戶可定義的限制線

主要優(yōu)點(diǎn) :

  • 在幾秒內(nèi)能顯示出測試結(jié)果
  • 支持不同頻率的輸入和參考的測試
  • 高性價(jià)比的解決方案
  • 無測量的校準(zhǔn)要求,節(jié)省時(shí)間
  • 易于具有直觀圖形用戶界面的軟件使用
  • 小尺寸

技術(shù)指標(biāo)

 

功能及指標(biāo)

3120A

帶寬

0.5~30MHz(正弦波)

輸入信號電平

-5~20dBm

相噪測量準(zhǔn)確度

NA

短穩(wěn)指標(biāo)

<1E-13@1秒(0.5Hz帶寬)

系統(tǒng)底噪

(10MHz輸入)

1Hz,@5MHz<-140dBc

1Hz,@25MHz<-130dBc

10kHz,@5MHz<-170dBc

10kHz,@25MHz<-165dBc

 

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